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表面力儀,SFA2000表面力儀The Surface Forces Apparatus可以直接測量表面（無機(jī)、有機(jī)、金屬、氧化物、聚合物、玻璃、生物等）之間的力學(xué)信號，在分子水平上研究界面和薄膜現(xiàn)象的靜態(tài)和動態(tài)力。靈敏度在納牛級別，距離分辨率為0.1納米。它可以測量表面之間的介質(zhì)折射率、吸附等溫線、毛細(xì)管冷凝等。表面力學(xué)方面。SurForce LLC表面力儀

SFA2000表面力儀The Surface Forces Apparatus可以直接測量表面（無機(jī)、有機(jī)、金屬、氧化物、聚合物、玻璃、生物等）之間的力學(xué)信號，在分子水平上研究界面和薄膜現(xiàn)象的靜態(tài)和動態(tài)力。靈敏度在納牛級別，距離分辨率為0.1納米。它可以測量表面之間的介質(zhì)折射率、吸附等溫線、毛細(xì)管冷凝等。表面力學(xué)方面。界面力學(xué)表面力儀